High and low temperature test chamber
説明
本品は、半導体デバイス、サーモスタット等の温度試験を行う装置であり、試験槽、加熱コイル、coolant orifice、送風機、温度検出器、制御機構等から構成されている。
槽内温度が設定温度と異なる場合には、温度検出器により温度差が検出され、制御機構が自動的に作動して加熱コイルにパルス電流が通し、又はcoolant orificeから液化ガスが噴出され、槽内の温度を設定温度に保つよう調節する（作動範囲、－73.3℃～260℃、精度士0.14℃）。本品は、構造的にみると冷却機構の占める割合が大きいが、これは、加熱は簡単な機構で行いうるのに対し、冷却は複雑な機構を必要とするからにすぎず、冷却機能の重要性を意味するものではない。
本品は、被試験物を一定温度に保って耐熱試験等を行う機器であり、関税率表解説の「材料に単に温度変化を生じさせる機械」に該当するものとして第8419.89号に属する。